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박만진 (M. J. Park) 논문수  · 이용수 5,127 · 피인용수 6

소속기관
한국전자기계융합기술원
소속부서
MSDE
주요 연구분야
공학 > 기계공학 > 기계공학 일반 TOP 10%
연구경력
-
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저자의 연구 키워드

저자의 연구 키워드
#Aberration
#angular beam intensity(각집속도)
#Capacitive Sensor(정전용량형 센서)
#Chatter(채터)
#condenser and objective lenses
#Condenser lens
#cut off
#Demagnification lens system
#EFV (EMC Filling Via)
#Einzel lens
#electrical optic axis(전기적광축)
#Electromagnetic analysis(전자기장 해석)
#Electro-Magnetic Lens
#Electromagnetic Lens(전자렌즈)
#Electro-magnetic Lens(전자렌즈)
#electron gun(전자총)
#Electron Optical System (전자광학계)
#Electron optical system(전자광학계)
#Electrostatic lens
#electrostatic lens(정전기렌즈)
#Electrostatic type
#equipotential line(등전위선)
#experimental proof(실험 검증)
#FE-SEM
#FIB
#Field Emission(전계방출)
#Finite Element Analysis (유한요소해석)
#Finite Element Analysis(유한요소해석)
#Focal Length(초점거리)
#focusing
#FOWLP
#high resolution
#image distortion(이미지 왜곡)
#image enhancement(이미지 향상)
#Integrated Complex System
#intensity profile
#Ion beam
#Ion source
#lens control(렌즈 제어)
#Magnetic Lens(자기렌즈)
#MCP
#Modal Analysis
#Monitoring(모니터링)
#Nano-stage
#noise elimination(노이즈 제거)
#Numerical Analysis
#Numerical Analysis(수치해석)
#Objective Lens (대물렌즈)
#Package stacking
#Plasma current
#Ray Tracing
#Ray Tracing (광선추적)
#Ray Tracing(광선추적)
#Scanning electron microscope
#Scanning Electron Microscope (주사전자현미경)
#Scanning Electron Microscope(주사전자현미경)
#scanning electron microscopy
#Scanning Electron Microscopy(주사전자현미경)
#SEM
#SEM(전자 주사 현미경)
#Spindle Displacement(주축변위)
#Sputter yield
#Static and Dynamic Analysis
#Surface roughness
#Thermal SEM(열전자 방출형 전자현미경)
#Thermionic Emission
#Thermionic Emission(열전자방사)
#TMV (Through Mold Via)
#Warpage simulation

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